Спектр: Спектроскопия кон-
денсированного состояния
 Задачи направления
 Приборы
 Контактная информация
Аналитика: Аналитическая
химия
 Задачи направления
 Приборы
 Перечень методик
 Контактная информация
Термо: Термогравиметрия и
калориметрия
 Задачи направления
 Приборы
 Контактная информация
Рентген: Рентгеноструктурные
исследования
 Задачи направления
 Приборы
 Контактная информация
Микроскопия
 Задачи направления
 Приборы
 Контактная информация
Магнит: Магнитные свойства
 Задачи направления
 Приборы
 Контактная информация
Механика: Механические
свойства
 Задачи направления
 Приборы
 Контактная информация
Металлургия
 Задачи направления
 Приборы
 Контактная информация
Уникальное: оборудование
ЦКП "Урал-М"
 Приборы
Пробоподготовка
ЦКП "Урал-М"
 Возможности
 Контактная информация

Микроскопия: Оптическая и электронная микроскопия


Приборы

1. Carl Zeiss EVO 40 - сканирующий электронный микроскоп;
2. Olympus GX-51 - исследовательский инвертированный материаловедческий
микроскоп
;
3. DelsaNanoC (Beckman Coulter Ltd., США);
4. CAMSIZER -XT (Retsch Technology, Германия) - анализатор частиц по размерам и форме;
5. Malvern - Анализатор распределения частиц по размерам для субмикронных систем;

1. «Carl Zeiss EVO 40»


Сканирующий электронный микроскоп (SEM) Carl Zeiss EVO 40 предназначен для получения изображений объектов в "прямых" электронах и электронах обратного рассеяния. Максимальное паспортное разрешение микроскопа составляет 3 нм. На практике разрешение несколько больше вследствие влияния вибраций и магнитных полей. Система микроскоп+управляющий компьютер показана ниже.
Использование специальных диафрагм позволяет производить наблюдение и регистрацию изображений в условиях как высокого (порядка 10-4 Па), так и низкого вакуума (до 750 Па). Работа в условиях низкого вакуума позволяет получать изображения непроводящих объектов, что невозможно в среде высокого вакуума.

Укомплектован приставкой для анализа дифракционных картин HKL Channel 5 EBSD (Premium) для химического микроанализа (EDS), а также фазового и структурного анализа (EBSD), картирования распределения химических элементов по поверхности, определения фазового состава и ориентации зерен в поверхностном слое.
Укомплектован базами данных по фазам и структурам.


Пример: типичное изображение поверхности образца сплава в "прямых"
электронах. Хорошо видна дендритная структура кристаллитов.


2. «Olympus GX-51 »


Оптический микроскоп (Olympus, Япония)
Возможные режимы:
  • при увеличениях от 50 до 1500 (сменные объективы x5, x10, x20, x50, x100, х150) без использования метода иммерсии;
  • с использованием методов светлого и темного поля;
  • с использованием различных мето-дов контрастирования (поляризация,
    дифференциальный интерференционный контраст (ДИК));

Пример: изображение микроструктуры при различном увеличении.


Съемка цифровой фотокамерой LU275C позволяет:
  • цветной режим;
  • разрешение 1600х1200 пикселей;
  • высокоскоростная USB 2(480МВit/s);
  • "живое видео" - 10 кадров в сек. при разрешении 1600х1200, 40 кадров в сек. при разрешении 800х600. Программное обеспечение SIAMS 700 позволяет
  • Получить цифровое изображение;
  • Улучшить качество изображений для печати и просмотра;
  • Провести измерения и оценку параметров изображений;
  • Создать разнообразные формы отчетов в форматах HTML, PDF, Mi-crosoft Word и Excel.

3. DelsaNanoC

Анализатор частиц субмикронного диапазона и определения дзета-потенциала (Beckman Coulter Ltd., США)

Прибор предназначен для пробоподготовки и аттестации образцов. Позволяет проводить измерение распределения частиц по размерам в диапазоне от 0,6 нм до 7 мкм, измерение поверхностного заряда частиц или пленок методом электрофоретического светорассеяния; диапазон определения размера частиц (0,6 нм - 7 мкм ); стандартный диапазон концентрации (0,001% - 10%).

4. CAMSIZER -XT

Анализатор частиц по размерам и форме

При динамическом анализе цифрового изображения, поступающего с двух камер с частотой 275 кадров в сек, позволяет получать:
  • средний размер частиц сухих, пористых сыпучих материалов;
  • плотность распределения частиц по размерам;
  • коэффициенты формы частиц: сферичность, симметричность, соотношение ширины и длины, количественные показатели частиц с определенной формой.
Диапазон анализируемых частиц: от 3 мкм до 3 мм, минимальный вес образца 5 г.



© 2008-2017 Сайт центра коллективного пользования "Урал-М"
© 2008-2017 Разработка сайта Umbra Stellar